플랙 파라미터

X선 결정학에서 플랙 파라미터는 단일 결정 구조 해석에 의해 결정되는 구조 모델의 절대적 구성을 추정하는 데 사용되는 요인이다.

이 접근법에서는 비대칭 결정의 절대 구조를 결정한다.절대구조를 결정하는 데 사용되는 공정은 변칙적인 분산효과를 이용한다.원자 산란 인자가 가상의 부품을 갖지 않은 경우, 프리델 쌍은 정확히 동일한 진폭(즉, 결정면(${\displaystyle h}$ ${\displaystyle k}$ ${\displaystyle l)}$ ${\displaystyle {}^{\mathrm{}}}$ ${\$의 산란$$ 강도 ${\displaystyle F}$ (${\displaystyle }$- ${\displaystyle h}$- k${\displaystyle }$- ${\displaystyle l)}$ ${\$F$(-k-l) ^{2}})$와 같다.$$그러나 원자 산란 인자는 변칙적인 분산 효과로 인해 가상의 부분이 있고, 프리델의 법칙은 이 효과로 깨진다.

X선 결정학에 의해 절대 구조를 결정하는 몇 가지 방법이 있다.예를 들어, 두 개의 가능한 구조물에 대한 Bijvoet 쌍 또는 R-요인의 강도 비교는 정확한 절대 구조를 제안할 수 있다.보다 강력하고 간단한 접근법 중 하나는 플랙 파라미터를 사용하는 것인데, 이 단일 파라미터는 절대 구조를 명확하게 나타내기 때문이다.

Flack 매개변수는 구조 미세화 중에 아래 주어진 방정식을 사용하여 계산한다.

${\displaystyle \ I(hkl)=(1-x) F(hkl) ^{2}+x F(-h-k-l) ^{2}}$

여기서 x는 Flack 매개변수, I는 축척 관측 구조물 인자의 제곱이고 F는 계산된 구조물 인자의 제곱이다.

모든 데이터에 대해 x를 결정함으로써, x는 대개 0과 1 사이인 것으로 확인된다.값이 0에 가까울 경우, 표준 불확실성이 작을 경우 구조물의 미세화에 의해 주어진 절대구조가 정확할 가능성이 높고, 값이 1에 가까울 경우 반전구조가 정확할 가능성이 높다.값이 0.5에 가까울 경우, 결정체는 경혈이거나 쌍심일 수 있다.이 기술은 크리스털에 더 가볍고 무거운 원자가 모두 들어 있을 때 가장 효과적이다.가벼운 원자는 보통 작은 변칙적인 분산 효과만 보인다.이 경우 플랙 매개변수는 물리적으로 비현실적인 값(0보다 작거나 1보다 큰 값)으로 정제할 수 있으며 의미가 없다.

이 파라미터는 H. D.에 의해 도입되었다.플랙은 비대칭 공간 그룹이 있는 구조물에 대해 검사되고 있는 표준 값 집합 중 하나가 되었다.

참조