적분 비선형성

적분 비선형성(Acronomic INL)은 DAC(Digital-to-Analog)와 ADC(Analogic-to-Digital) 변환기에서 일반적으로 사용되는 성능 척도다. DAC에서 그것은 이상적 출력값과 특정 입력 코드에 대한 실제 측정된 출력값 사이의 편차를 측정한 것이다. ADC에서 이는 이상적인 입력 임계값과 특정 출력 코드의 측정된 임계값 레벨 사이의 편차다. 이 측정은 오프셋 및 게인 오류가 보정된 후에 수행된다.^[1]

DAC 또는 ADC의 이상적인 전송 기능은 직선이다. INL 측정은 어떤 라인을 이상적으로 선택하느냐에 따라 달라진다. 한 가지 일반적인 옵션은 전송 기능의 끝점을 연결하는 선, 즉 가장 작고 가장 큰 측정 입출력 값을 연결하는 선입니다. 다른 방법은 평균(또는 평균 제곱) INL을 최소화하는 최적의 적합선을 사용하는 것이다.

가능한 모든 입력/출력 코드에 대해 INL을 측정할 수 있지만, 컨버터의 INL을 보고할 때 최대 오차만 제공되는 경우가 많다.^[2]

공식

DAC의 INL

$N{\displaystyle {}_{}}$ ${\displaystyle c_{}}$ ${\$ 출력$$ 코드가 있는 DAC의 $코드$ c ${\displaystyle c}$의 INL은 실제 출력 전압 차이의 절대값에서 이상적인 값을 뺀 값으로 정의된다.

${\displaystyle \mathrm {INL} _{c}=\left V_{\mathrm {o,ideal} }(c)-V_{\mathrm {o,real} }(c)\right =\left (V_{\mathrm {o,max} }-V_{\mathrm {o,min} }){\frac {c}{N_{c}-1}}-V_{\mathrm {o,real} }(c)\right }$

, where

${\displaystyle V_{}}$ ${\displaystyle {o\mathrm{}}_{}}$, ${\displaystyle {\mathrm{m}}_{}}$ ${\displaystyle {\mathrm{a}}_{}}$ ${\displaystyle {\mathrm{x}}_{}}${\$displaystyle V_{\mathrm {o,max}}$} 및$$ $V{\displaystyle {}_{\mathrm{o}}}$ , ${\displaystyle {\mathrm{m}}_{}}$ i ${\$은 DAC의 최대 및 최소 이상적인 출력 전압이다$$.

ADC의 INL

ADC의 경우 코드 $c{\displaystyle }$ ${\displaystyle c}$의 INL은 이상적인 전송 함수와 실제 전송 함수 사이의 정량화 단계의 중간 지점의 편차로 정의된다$$.

${\displaystyle \mathrm {INL} _{c}=\left V_{\mathrm {M, ideal}}}}}-V_{\mathrm {M,real}\real}\right }$

컨버터의 최대 INL

컨버터의 INL을 언급할 때 일반적으로 모든 코드에 대해 최대 INL을 의미한다. 엔드포인트를 통과하는 라인의 경우 DAC의 INL은

${\displaystyle \mathrm {INL} _{max}=\max_{0,1,\ldots,N_{c}-1\}\mathrm {INL} _{c}}}}$

이 INL은 볼트로 측정되며, LSB를 측정하기$$ 위해 이상적인 $LSB{\displaystyle {}_{}}$ ${\displaystyle {\mathrm{전압}}_{}}$ V L$$S ${\displaystyle B_{}}$ {\$displaystyle V_${LSB$}$로 나눌 수 있다.

${\displaystyle \mathrm {INL} _{max,norm}={\frac {\mathrm {INL} _{max}{V_{LSB}}}}}}}}$

참고 항목

• 미분 비선형성
• 수량화

참조

외부 링크

• 고속 ADC(Analog-to-Digital Converter)를 위한 INL/DNL 측정 참고사항 283 by Maximum