메모리 테스터

Memory tester

메모리 테스터는 메모리 모듈의 테스트 및 검증에 사용되는 특수한 테스트 장비입니다.

종류들

메모리 모듈테스터는 크게 하드웨어 메모리테스터와 PC 환경에서 실행되는 소프트웨어 진단 프로그램의 두 가지 유형으로 분류할 수 있습니다.하드웨어 메모리 테스터는 소프트웨어 진단 테스트 프로그램에 비해 테스터에 더 정교하고 포괄적인 테스트 기능을 내장하고 있습니다.소프트웨어 Diagnostics를 사용하면 메모리 모듈이 이미 컴퓨터 시스템에 설치되어 있을 때 발생할 수 있는 문제를 검출할 수 있습니다.

하드웨어 테스터

하이엔드 자동 테스트 장치(ATE) 클래스 메모리 테스터는 삼성, 현대, 마이크론 등 대부분의 OEM 메모리 칩 제조업체에서 사용합니다.일반적으로 시스템당 100만 달러부터 가격이 책정됩니다.이 장비는 숙련된 반도체 엔지니어가 작동해야 합니다.ATE 클래스 메모리 테스터는 메모리 칩 패키징의 마지막 단계에서 메모리 장애를 검출하기 위한 매우 복잡한 테스트 알고리즘으로 구축되어 있습니다.

보통 26,000달러 미만의 미드레인지 메모리 [1]테스터는 메모리 모듈 제조 어셈블리 하우스에서 흔히 볼 수 있습니다.이러한 테스터는 대량의 메모리 모듈 테스트를 지원하도록 구축되어 있습니다.또한 칩을 PCB 또는 SIMM 카드에 조립한 후 납땜 오류 및 크로스 셀 오염으로 인한 조립 결함 검출에도 사용됩니다.이러한 메모리 테스터는 보통 대량 생산 테스트를 위해 자동 처리 시스템에 도킹되므로 작업자의 수동 작업이 필요하지 않습니다.

로우엔드 메모리 테스터는 보통 1000~3000달러 정도의 비교적 저렴한 가격입니다.주요 특징은 휴대성, 사용 편의성, 비교적 작은 크기입니다.일반적으로 서비스업계에 의해 사용되며, 특히 컴퓨터 서비스 기술자, RMA 부문, 메모리 리셀러/브로커/도매업자가 PC 시스템 또는 PC에 들어가기 전에 메모리 모듈을 검증 및 테스트하기 위해 사용합니다.이 메모리 테스터의 품질과 기능은 제조원에 따라 크게 다릅니다.뛰어난 메모리 테스터는 하이엔드 ATE 및 중거리 메모리 테스터와 동등한 기능을 갖추고 있습니다.중요한 것은 대부분의 메모리 장애 및 장애를 캡처하는 데 효과적인 사용하기 쉬운 테스터를 저렴한 가격에 제공하는 것입니다.

소프트웨어 테스터

메모리 진단 소프트웨어 프로그램(예: memtest86)은 PC의 메모리 장애를 체크하기 위해 사용되는 저비용 또는 무료 도구입니다.통상, 플로피 디스크나 CD-ROM 로 부터블 소프트웨어를 배포하는 형태입니다.Diagnostics 툴은 컴퓨터 내의 모든 시스템 메모리를 테스트할 수 있는 메모리 테스트 패턴을 제공합니다.메모리 또는 메인보드로 인해 PC를 시작할 수 없는 경우에는 진단 소프트웨어를 사용할 수 없습니다.원칙적으로 테스트 프로그램은 결과를 저장 장치(예: 플로피 디스크)나 프린터로 전송하여 보고할 수 있지만, 실제로 작동 중인 디스플레이가 필요합니다.

웜 메모리 테스트

미묘한 타이밍의 문제를 검출할 수 있는 보다 강력한 메모리테스트는 웜메모리 테스트(또는 [2][3][4][5]웜테스트)라고 불리는 자기수정, 동적 자기재구축 및 잠재적으로 자기파괴적인 메모리웜으로서 실장되어 있습니다.

검출된 장애

메모리 테스터는 시스템의 기능 동작에 영향을 주는2종류의 장애를 검출하도록 설계되어 있습니다(메모리 칩, 로직 칩, PCB 보드).비영구적 결함 및 영구적 결함.

영구 장애

영구 고장은 시스템의 논리 값에 영구적으로 영향을 미치며, 이러한 고장은 메모리 테스터를 사용하여 더 쉽게 감지할 수 있습니다.예를 들어 다음과 같습니다.

  • 집적 회로, 기판 등의 잘못된 연결(예: 솔더 비산 또는 설계 고장으로 인한 연결부 누락 또는 단락)
  • 파손된 컴포넌트 또는 컴포넌트 부품
  • 잘못된 IC 마스크(제조 문제)
  • 기능 설계 오류(실행해야 했던 논리적 기능이 잘못 설계됨)

비영구적 장애

비영구적인 장애는 임의의 순간에 발생합니다.이 값은 지정되지 않은 기간 동안 시스템의 동작에 영향을 미칩니다.메모리 테스터에서는 비영구적인 장애의 검출과 위치 파악이 매우 어렵습니다.때때로 비영구적인 결함이 테스트 중에 시스템 작동에 영향을 미치지 않을 수 있습니다.

비영구적 고장에는 다음 두 가지 유형이 있습니다.과도적 고장 및 간헐적 고장

일시적인 장애는 검출하기 어렵고 검출해야 할 장애도 명확하게 정의되어 있지 않습니다.과도 장애로 인해 발생하는 RAM 오류는 소프트웨어 오류라고 불리는 경우가 많습니다.다음 예는 과도 장애의 원인이 될 수 있는 요인입니다.

간헐적 고장은 다음과 같은 비환경적 조건에 의해 발생합니다.

  • 느슨한 접속
  • 컴포넌트의 열화 또는 노후화
  • 크리티컬 타이밍
  • 저항 및 캐패시턴스 변화
  • 물리적 불규칙성
  • 노이즈(노이즈로 인해 시스템 내 신호가 방해됨)

「 」를 참조해 주세요.

레퍼런스

  1. ^ "Innoventions Ramcheck Advanced Memory Tester - PCSTATS.com". www.pcstats.com.
  2. ^ The Worm Memory Test (PDF). Vector Graphic. 2015-10-21. Archived (PDF) from the original on 2019-05-15. Retrieved 2021-12-13. (3페이지) (NB. Vector Graphic 3 서비스 매뉴얼 참조)
  3. ^ Wilkinson, William "Bill" Albert (2003) [1996, 1984]. "The H89 Worm: Memory Testing the H89". Bill Wilkinson's Heath Company Page. Archived from the original on 2021-12-13. Retrieved 2021-12-13. […] Besides fetching an instruction, the Z80 uses half of the cycle to refresh the dynamic RAM. […] since the Z80 must spend half of each instruction fetch cycle performing other chores, it doesn't have as much time to fetch an instruction byte as it does a data byte. If one of the RAM chips at the memory location being accessed is a little slow, the Z80 may get the wrong bit pattern when it fetches an instruction, but get the right one when it reads data. […] the built-in memory test won't catch this type of problem […] it's strictly a data read/write test. During the test, all instruction fetches are from the ROM, not from RAM […] result[ing] in the H89 passing the memory test but still operating erratically on some programs. […] This is a program that tests memory by relocating itself through RAM. As it does so, the CPU prints the current address of the program on the CRT and then fetches the instruction at that address. If the RAM ICs are okay at that address, the CPU relocates the test program to the next memory location, prints the new address, and repeats the procedure. But, if one of the RAM ICs is slow enough to return an incorrect bit pattern, the CPU will misinterpret the instruction and behave unpredictably. However, it's likely that the display will lock up showing the address of faulty IC. This narrows the problem down eight ICs, which is an improvement over having to check as much as 32. […] The […] program will perform a worm test by pushing an RST 7 (RESTART 7) instruction from the low end of memory on up to the last working address. The rest of the program remains stationary and handles the display of the current location of the RST 7 command and its relocation. Incidentally, the program is called a worm test because, as the RST 7 instruction moves up through memory, it leaves behind a slime trail of NOPs (NO OPERATION). […]
  4. ^ 스타인 먼 1월 W.(1986-09-01).웨스트 린 미국 오레곤 주."그 웜 기억력 시험"에 쓰여진.우익.(TRTA).박사 Dobb의 저널 소프트웨어 도구의 전문 프로그래머.캘리포니아 주 레드 우드시, USA:M&T출판사, Inc. /는 컴퓨터사. 11(9):114–115(662–663).ISSN 1044-789X.#119. 궤:/13960/t74v34p9p CODEN DDJOEB.2021-12-13 Retrieved.{{ 들고 일기}}:CS1 maint:url-status(링크)[1](2페이지).
  5. ^ 스타인 먼 1월 W.(1986년)."III. 유용한 68000Routines와 기법과 16이죠.그 웜 메모리 Test"(PDF).WestLinn은 오리건 주 68000프로그래밍은 미국 박사는 Dobb의 Toolbook에 쓰여진.미국 뉴욕:브래디 북/프렌티스 홀 출판부/사이먼&슈스 테르, 주식 회사를 대신하여 서명함. 341–350.아이 에스비엔 0-13-216649-6. LCCN 86-25308.그 2021-12-13에 원래에서Archived(PDF)..(1+5+10+1 페이지)2021-12-13 Retrieved