에버렛 프랭클린 린드퀴스트

에버렛 프랭클린 린드퀴스트(Everett Franklin Lindquist, 1901년 6월 4일 ~ 1978년 5월 13일)는 아이오와 주립 교육대학의 교육학 교수였다. 그는 ACT와 다른 표준화된 시험의 창시자로 가장 잘 알려져 있다. 교육 시험 분야에 대한 그의 공헌은 중요하고 오늘날에도 여전히 명백하다.

초년기

에버렛 프랭클린 린드퀴스트는 아이오와 주 고우리 출신이다.^[1] 그는 요나스 A의 아들이었다. 린키스트와 한나 오 앤더슨.^[2]

경력

린퀴스트는 1925년 아이오와 대학에 연구 보조원으로 입사했다. 1927년 박사학위를 받았으며, 1969년 은퇴할 때까지 아이오와 교직원이었다. 1953년에 그는 미국통계협회 회원으로 선출되었다.^[3]

교육 테스트

아이오와 학생들을 위한 학술 대회를 만들고자 했던 그는 1929년에 일련의 시험을 개발했다. 이것들은 아이오와 초등학교와 중학교 학생들을 위한 시험인 기본 기술 시험과 고등학생들을 위한 아이오와 교육 개발 시험으로 발전했다. 그들의 이름에도 불구하고, 그들은 전국적으로 사용되는데, 특히 '낙제 아동 방지법'이 제정된 이후 더욱 그러하다. 이들의 성공으로 그는 아이오와 캠퍼스에 비영리 측정 연구 센터를 설립하여 이러한 시험들을 채점했으며, 후에 웨스팅하우스, NCS, 그리고 현재 소유주인 피어슨 PLC가 이 시험을 취득했다.

1959년 그는 SAT에서 검사한 인지 추론보다는 실지식을 시험하기 위한 시험인 ACT를 도입했다. ACT는 오늘날에도 널리 사용되고 있으며 린드퀴스트의 고향인 아이오와주에 본사를 두고 있다. 지금은 ACT의 경쟁 기관인 칼리지 보드에 의해 관리되고 있지만, 린퀴스트는 최초의 국가 공로 장학금 자격 시험을 개발했다.

린드퀴스트는 제2차 세계 대전 동안 군인들에게 학점을 부여하는 방법으로 진화한 GED를 개발한 위원회에 속해 있었다.

시험기술

ITBS 테스트의 사용이 급증한 결과, 그는 전기 마크 센스 IBM 805 Test Scoring Machine의 대체품으로 최초의 실용적인 광학 마크 인식 시스템을 개발했다. 비록 아이오와 대학의 많은 동료들이 이 발명에 기여하였지만, 린퀴스트는 일반적으로 이러한 발전에 공로를 인정받고 있으며 미국 특허권 3,050,248 (Filed 1955, 1962년 부여)에 등재된 유일한 발명가다.

린드퀴스트의 첫 번째 광학 마크 인식 스캐너는 자기 드럼 메모리와 직접 연결된 마임그래프 종이-트랜스포트 메커니즘을 사용했다. 비록 그것이 범용 컴퓨터는 아니었지만, 그것은 컴퓨터 기술을 광범위하게 이용했다.

출판물

그의 1940년 저서 "교육연구에서의 통계적 분석"은 접근 가능한 수단을 사용하여 시험 데이터를 더 작은 환경으로 해석할 필요가 있는 기초를 다졌다. 그는 당시 확정적인 작품인 Educational Measurement (1951년)의 초판 편집자였으며, 자신의 분야가 직면한 문제와 이슈를 설명하는 자신의 장을 기고했다. 이 문제들은 오늘날에도 여전히 매우 중요하다. 두 번째 영향력 있는 책인 "심리학과 교육의 실험의 설계와 분석"(1953)은 그의 첫 번째 책에 언급된 아이디어에 대해 상세히 설명하면서 교육 연구 전문가로서의 권위를 확고히 했다.

레거시

아이오와 주립 교육대학이 있는 린퀴스트 센터는 현재 아이오와 주립대학 캠퍼스에 있으며 그를 기리기 위해 이름이 지어졌다. 게다가, 아이오와 시티의 ACT 캠퍼스에 있는 린퀴스트 빌딩도 그의 명예를 위해 존재한다. 아이오와시 프레스 시티즌에 의해 아이오와시의 "Fabulous 150" 중 한 명으로 선정되기도 했다.^[4]

비록 많은 수업들이 현재 그의 시험을 가르치고 있고, ACT 준비는 수백만 달러의 산업이지만, 린드퀴스트는 이 문제로 인해 1930년대 후반에 그의 대회가 끝났다.

참조