평판 검출기
Flat-panel detector평면 검출기는 디지털 사진 및 비디오에 사용되는 이미지 센서와 원칙적으로 유사한 솔리드 스테이트 X선 디지털 방사선 촬영 장치의 한 종류다.투영 방사선 촬영과 투시 진단 장비에서 X선 영상 강화기(II)의 대안으로 사용된다.
원칙
엑스레이는 이미징되는 피사체를 통과하여 두 가지 유형의 검출기 중 하나를 타격한다.
간접 검출기
간접 검출기에는 섬광기 물질 층(일반적으로 X선을 빛으로 변환하는 gadolinium oxysulfide 또는 요오드화 세슘)이 포함되어 있다.섬광기 레이어 바로 뒤에는 LCD 텔레비전과 컴퓨터 모니터를 만드는 데 사용되는 것과 매우 유사한 공정을 사용하여 제조된 비정형 실리콘 검출기 어레이가 있다.TFT-LCD 디스플레이처럼, 박막 트랜지스터를 포함하는 약 0.2mm 픽셀의 수백만 화소가 유리기판 위의 비정형 실리콘으로 무늬를 새긴 그리드를 형성한다.[1]액정표시장치(LCD)와 달리 디지털 카메라의 이미지 센서 칩과 유사하게 각 픽셀은 또한 화소 앞의 섬광기 층 부분에서 발생하는 빛에 비례하여 전기 신호를 생성하는 광다이오드도 포함하고 있다.X선 영상의 정확하고 민감한 디지털 표현을 위해 광다이오드 신호는 센서 어레이의 가장자리 또는 뒤에 위치한 추가 전자장치에 의해 증폭되고 인코딩된다.[2]
직접 FPD
다이렉트 변환 이미저는 아모르퍼스 셀레늄(a-Se)과 같은 광촉자를 활용하여 입사 X선 광자를 직접 캡처해 전하에 변환한다.[3]a-Se의 층에서 발생하는 X선 광자는 내부 광전 효과를 통해 전자 구멍 쌍을 생성한다.셀레늄 층의 깊이에 가해지는 바이어스 전압은 전자와 구멍을 해당 전극으로 끌어당긴다. 따라서 생성된 전류는 조사 강도에 비례한다.그런 다음 신호는 일반적으로 박막 트랜지스터(TFT) 어레이에 의해 기본 판독 전자장치를 사용하여 판독된다.[4][5]
간접 변환 검출기에 내재된 광 변환 단계를 제거함으로써 광 광 광자의 횡적 확산이 제거되어 직접 변환 검출기에서 결과 신호 프로파일의 흐림이 감소한다.TFT 기술로 달성할 수 있는 작은 픽셀 크기와 결합하여 a-Se 직접 변환 검출기는 높은 공간 분해능을 제공할 수 있다.낮은 에너지 광자에 대한 a-Se의 상대적인 높은 양자 검출 효율(< 30 keV)과 결합된 이 높은 공간 분해능은 미세석회화를 식별하기 위해 고 분해능이 바람직한 유방조영술에 이 검출기 구성을 사용하도록 동기를 부여한다.[6]
장단점

평면 검출기는 필름보다 민감하고 빠르다.그들의 민감도는 필름보다 주어진 화질에 대해 더 낮은 방사선량을 허용한다.형광 투시술의 경우 X선 영상강화기에 비해 가볍고 내구성이 뛰어나며 부피가 작고 정확도가 높으며 영상 왜곡이 훨씬 적으며 넓은 영역으로도 제작이 가능하다.[7]II에 비해 불리한 점에는 결함 있는 영상 요소, 높은 비용 및 낮은 공간 해상도가 포함될 수 있다.[8]
일반 방사선 촬영에서는 컴퓨터 방사선 촬영 및 (특히) 필름 시스템을 통해 시간과 비용을 절약할 수 있다.[9][10]미국에서는 디지털 방사선 촬영이 컴퓨터 방사선 촬영과 필름 사용을 능가하는 과정이 진행 중이다.[11][12]
유방조영술에서 직접 변환 FPD는 분해능[citation needed], 신호 대 잡음 비, 양자 효율 면에서 필름 및 간접 기술을 능가하는 것으로 나타났다.[13]유방 선별 프로그램의 최소 표준으로 디지털 유방 촬영이 권장된다.[14][15]
참고 항목
참조
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- ^ Kotter, E.; Langer, M. (19 March 2002). "Digital radiography with large-area flat-panel detectors". European Radiology. 12 (10): 2562–2570. doi:10.1007/s00330-002-1350-1. PMID 12271399. S2CID 16677678.
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