스캔 체인
Scan chain |
스캔 체인은 테스트를 위한 설계에 사용되는 기법이다.목표는 IC의 모든 플립플롭을 설정하고 관찰할 수 있는 간단한 방법을 제공하여 시험을 쉽게 하는 것이다.스캔의 기본 구조는 스캔 메커니즘을 제어하고 관찰하기 위해 다음과 같은 신호 세트를 포함한다.
- Scan_in 및 Scan_out은 스캔 체인의 입력과 출력을 정의한다.전체 스캔 모드에서는 일반적으로 각 입력은 하나의 체인만 구동하고 스캔 아웃은 하나의 체인을 관찰한다.
- 스캔 활성화 핀은 설계에 추가되는 특수 신호다.이 신호가 주장되면 설계의 모든 플립 플롭은 긴 변속 레지스터에 연결된다.
- 변속 단계 및 캡처 단계 중에 체인의 모든 FF를 제어하는 데 사용되는 클럭 신호.플립플롭의 체인에 임의의 패턴을 입력할 수 있으며, 모든 플립플롭의 상태를 읽을 수 있다.
전체 스캔 설계에서 ATPG(자동 테스트 패턴 생성)는 특히 간단하다.순차 패턴 생성이 필요하지 않음 - 생성하기 훨씬 쉬운 조합 테스트로 충분하다.콤비네이터 테스트가 있으면 쉽게 적용할 수 있다.
- 스캔 모드를 주장하고 원하는 입력을 설정하십시오.
- 검색 모드 할당을 해제하고 하나의 시계를 적용하십시오.이제 테스트 결과는 대상 플립플롭에 포착된다.
- 스캔 모드를 다시 검사하고 결합 테스트가 통과했는지 확인하십시오.
완전한 스캔 설계가 없는 칩에서는, 즉, 칩에는 스캔 체인의 일부가 아닌 메모리 소자와 같은 순차 회로가 있으므로 순차 패턴 생성이 필요하다.순차 회로에 대한 테스트 패턴 생성은 가능한 모든 벡터 시퀀스의 공간을 통해 특정 고장을 감지하는 벡터 시퀀스를 검색한다.
단순한 고착 고장이라도 순차적 회로에서 감지하기 위해 일련의 벡터가 필요하다.또한 메모리 소자가 존재하기 때문에 순차 회로 내 내부 신호의 제어 가능성과 관측 가능성은 일반적으로 결합 논리 회로 내 신호보다 훨씬 더 어렵다.이러한 요소들은 순차 ATPG의 복잡성을 결합 ATPG의 복잡성보다 훨씬 더 높게 만든다.
여러 가지 변종이 있다.
- 부분 검색:일부 슬리퍼 샌들만이 체인으로 연결되어 있다.
- 여러 스캔 체인:로드 및 관찰 시간을 줄이기 위해 두 개 이상의 스캔 체인이 병렬로 구축된다.
- 테스트 압축: 스캔 체인에 대한 입력은 온보드 로직에 의해 제공된다.
